电子元器件专用HAST高压加速老化试验机/pct高压加速老化试验箱

电子元器件专用HAST高压加速老化试验机/pct高压加速老化试验箱

【规格/SPEC】 

电子元器件专用HAST高压加速老化试验机/pct高压加速老化试验箱-

密封试验

密封试验的目的在于确定具有内空腔的电子元器件和含有封装的电子元器件的气密性。

密封试验的基本原理是：先把试验样品置于密封容器内，把容器抽成真空，然后把试 验样品放进含有检验介质的容器中，设法使检验介质进人电子元器件内腔。从该容器中 取出试验样品后，再设法检查出有没有检验介质进入电子元器件内腔，从而判断该电子元 器件密封是否完好。

密封试验也叫做检漏试验，常用的检漏试验分为粗、细两种检漏试验。

粗检漏试验有：碳氟化合物粗检漏试验,染料浸透粗检漏试验,增重粗检漏试验。 细检漏试验有：示踪气体氦（He)细检漏试验,放射性同位素细检漏试验，晶体管湿 热细检漏试验。

电子元器件专用hast高速加速寿命试验机/pct高压加速老化试验箱技术规格/性能:

★、箱温度范围:100℃—132℃?

★、温度解析精度:?0.1℃?

★、加压时间:?0.0kg/㎝2～2.0?kg/㎝2约30分钟?

★、内箱材质:采用SUS316耐寒耐热不锈钢板?

★、湿度范围:?100%?R.H?

★、压力范围:?0.0kg/㎝2～2.0?kg/㎝2(相对压力,锅内压力),绝对压力=1.0?kg/㎝2＋0.0kg/㎝2～2.0?kg/㎝2(安全压力容量为4?kg/㎝2=1个大气压＋3?kg/㎝2)?

★、温度分布精度:?±1.5℃?

★、温度控制精度:?±0.5℃?

电子元器件专用HAST高压加速老化试验机结构及安全装置：

★、圆形横置式内槽结构设计方便使用者取置待测物品，可预防试验中有滴水结露现象,可避免蒸汽过热直接冲击操作人员。

★、安全程序自动停机,自动泄压,自动破真空,自动给水,每次加水可持续运行48小时(可根据客户要求订制,也可做成全自动补水系统)。

★、采用温度与压力安全检知及门禁自动锁定控制系统,圆型测试槽与安全门环扣结构设计,当内箱压力越大时,反压会迫使安全门与箱体更加紧密之结合,故内箱压力必须小于正常压力时,测试门才能被打开,因此而保证了操作人员的安全。

★、真空系统保证实验中箱内空气的纯净度(实验前系统可将箱内空气抽出,并将其过滤为新空气)

★、具备异常故障讯号警示功能

更多产品：www.zhenghangsy.net